ソフトウェア・テストの技法 第2版 [単行本]

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うれしい

  • 目次(「BOOK」データベースより)

    第1章 自己診断テスト
    第2章 プログラム・テストの心理学と経済学
    第3章 プログラムの検査、ウォークスルー、検討
    第4章 テスト・ケースの設計
    第5章 モジュール(単体)・テスト
    第6章 上級テスト
    第7章 デバッグ
    第8章 エクストリーム・テスト
    第9章 インターネット・アプリケーションのテスト
  • 著者紹介(「BOOK著者紹介情報」より)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

    マイヤーズ,J.(マイヤーズ,J./Myers,Glenford J.)
    ソフトウェアの信頼性とコンピュータ・アーキテクチャの分野における教育・研究・コンサルティングに従事している。IBM SRI(Systems Resarch Institute)のシニア・スタッフ・メンバ

    バジェット,T.(バジェット,T./Badgett,Tom)
    IdleAire Technologies社のCIO(情報担当役員)でPCJr magazineなどの技術編集者を歴任

    トーマス,M.(トーマス,M./Thomas,Todd M.)
    ソフト開発とDBAの専門家でJava Data Accessの著者

    サンドラー,C.(サンドラー,C./Sandler,Corey)
    Word Association社の社長でFix Your Own PCの著者

    長尾 真(ナガオ マコト)
    1959年京都大学工学部電子工学科卒業。1961年京都大学大学院修士課程修了。1973年京都大学教授。1997‐2003年京都大学総長。現在、独立行政法人情報通信研究機構理事長。工学博士
商品仕様
出版社名:近代科学社
著者名:J. マイヤーズ(原著)/T. バジェット(原著)/M. トーマス(原著)/C. サンドラー(原著)/長尾 真(監訳)/松尾 正信(訳)
発行年月日:2006/07/31
ISBN-10:4764903296
ISBN-13:9784764903296
判型:A5
対象:専門
発行形態:単行本
内容:工学・工業総記
ページ数:221ページ
縦:22cm
その他:原書第2版 原書名: The Art of Software Testing,Second Edition〈Myers,Glenford J.;Badgett,Tom;Thomas,Todd M.;Sandler,Corey〉
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